Для випадку асиметричної Лауе-дифракції проведено дисперсійний аналіз розсіяння рентгенівських променів у пружно зігнутому кристалі. Встановлено, що за умов зменшення області когерентного розсіяння, зростання асиметрії розсіяння призводить до явища "розгалуження" деформації, тобто до зменшення її впливу на розсіяння рентгенівських променів. За допомогою рівнянь Такагі - Топена одержано систему диференційних рівнянь, що описують міжгілкове розсіяння рентгенівських променів у пружно зігнутому кристалі. Доведено: міжгілковий обмін можна розглядати як наслідок динамічної взаємодії ейкональних мод, що відповідають різним гілкам дисперсійної поверхні. У випадку симетричної Лауе-дифракції було отримано асимтотичні розв'язки рівнянь Такагі - Топена для амплітуд прохіднчої та дифрагованої хвиль у сильно зігнутому кристалі. З'ясовано, що за даних умов, сильні деформації кристалічної гратки можуть призводити до ефективного відключення некогерентного каналу розсіяння рентгенівських променів.

  Скачати повний текст